赛默飞Themis Z双球差校正透射电镜是广泛应用于化学、材料、物理等学科研究的革命性大型仪器，可以从原子/分子尺度上表征材料微结构；设备搭载高性能能谱仪和电子能量损失谱，可精准解析材料成分、价态和三位原子结构；具有低电压、低辐照技术，可在低电压下检测有机材料等敏感样品。

仪器特点：可拍摄明场像、暗场像、高分辨像，扫描透射高角环形暗场像；配有三维重构成像系统，可实现纳米材料的三维成像；进行选区电子衍射和会聚束衍射，分析微区晶体结构、样品厚度以及材料应变场；配有先进的S-CORR双球差校正器，达到目前世界最高水平的空间分辨率；配有4K高分辨相机和能损谱系统，可进行元素成分和价态的谱学分析，可实现快速的能量过滤像EFTEM；可对无机材料进行差分相位衬度（DPC）分析，可表征无机材料中的原子间电场分布；具有轻元素成像功能（iDPC），可以在低束流下观察样品并实现轻重元素同时成像；配有像素阵列探头（EMPAD），可收集4D STEM数据集。