赛默飞Talos F200X能够提供快速、精确的纳米材料多尺度表征，配备多种功能以提高效率、精度与易用性，出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像与业界领先的能量色散 X 射线光谱 (EDS) 信号检测相结合。采用构合映射的 2D/3D 化学表征由具有独特清洁度的 4 个柱内 SDD Super-X 探头执行。Talos F200X 扫描透射电子显微镜在所有维度下均可实现极快速精准的 EDS 分析，以及在进行动态显微镜检查时实现导航快速的高分辨率 TEM 和 STEM（HRTEM 和 HRSTEM）成像。

仪器特点：它融合了出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像功能、能谱仪 (EDS) 信号检测功能及基于成分面分析的三维化学表征功能。基于多个 STEM 探测器的多通道合并技术以及差分相位衬度 (DPC) 成像技术，显著改善了 S/TEM 成像质量，可以分析电磁结构，并实行快速、准确的 EDS 数据处理和定量分析。